射線探傷是利用射線的穿透性以及直線性來(lái)探傷的方式.這些射線盡管不會(huì)像可見(jiàn)光那末憑肉眼就能直接察知,但它可使拍照底片感光,也有用獨(dú)特的接管器來(lái)接管.常用于探傷的射線有x光以及同位素散發(fā)的γ射線,辭別稱為x光探傷以及γ射線探傷.? 當(dāng)這些射線穿過(guò)物資時(shí),該物資的密度越大,射線強(qiáng)度削弱得越多,即射線能穿透過(guò)該物資的強(qiáng)度就越小.此時(shí),若用拍照底片接管,則底片的感光量就小;若用儀器來(lái)接管,取得的信息就弱.因而,用射線來(lái)映射待探傷的零部件時(shí),若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺點(diǎn),射線穿過(guò)有缺點(diǎn)的途徑比沒(méi)有缺點(diǎn)的途徑所透過(guò)的物資密度要小得多.??? 其強(qiáng)度就削弱得少些,即透過(guò)的強(qiáng)度就大些,若用底片接管,則感光量就大些,就能夠從底片上反映出缺點(diǎn)垂直于射線目標(biāo)的平面投影;若用其它接管器也相同能夠用儀表來(lái)反映缺點(diǎn)垂直于射線目標(biāo)的平面投影以及射線的透過(guò)量.由此可見(jiàn),通常狀況下,射線探傷是不容易發(fā)覺(jué)裂紋的,或者說(shuō),射線探傷對(duì)裂紋是不敏感的.??? 因而,射線探傷對(duì)氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺點(diǎn)Z敏感.即射線探傷合適用于體積型缺點(diǎn)探傷,而不合適面積型缺點(diǎn)探傷.